金融界2025年6月20日消息,国家知识产权局信息显示,湖北星辰技术有限公司申请一项名为“半导体结构及其套刻误差测量方法”的专利,公开号CN120184149A,申请日期为2025年03月。
专利摘要显示,本申请实施例提供一种半导体结构及其套刻误差测量方法,涉及半导体技术领域,更容易检测到第一标识和第二标识相互平行的侧边轮廓,有利于提高测量两者的两条邻边之间的间距的精准度,能够提高两个半导体结构的对准精度。第一半导体结构包括第一标识;第一标识的材料包括导电材料。第二半导体结构设置于第一半导体结构的一侧,包括多个第二标识。第二标识沿第一半导体结构和第二半导体结构的堆叠方向延伸,且一端从第二半导体结构的表面暴露。沿垂直于第一半导体结构和第二半导体结构堆叠的方向,多个第二标识中至少部分第二标识位于第一标识的至少一侧,且与第一标识之间具有间隔。第二标识的至少一条侧边与第一标识的侧边平行。
天眼查资料显示,湖北星辰技术有限公司,成立于2021年,位于武汉市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本2935.8218万人民币。通过天眼查大数据分析,湖北星辰技术有限公司共对外投资了7家企业,参与招投标项目28次,财产线索方面有商标信息14条,专利信息69条,此外企业还拥有行政许可16个。
来源:金融界