宇问测量申请基于多传感器优化温度测量精度专利，提升动态场景下温度测量覆盖完整性与结果准确性
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2025-07-15 15:38:48
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金融界2025年7月15日消息，国家知识产权局信息显示，深圳宇问测量技术有限公司申请一项名为“一种基于多传感器的温度测量精度优化方法”的专利，公开号CN120313743A，申请日期为2025年06月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于多传感器的温度测量精度优化方法，属于温度测量技术领域，具体包括：部署温度监测阵列，包含固定位置基础传感器组和位置可调辅助传感器组；通过红外热成像装置扫描目标区域生成热场温度梯度分布图谱；基于所述热场温度梯度分布图谱识别高动态变化区域边界，提取边界几何特征参数；根据所述边界几何特征参数构建热流传播预测模型，计算热传导路径上的关键监测节点空间坐标集合；依据所述关键监测节点空间坐标集合生成传感器部署指令，动态调度辅助传感器组移动至目标位置；融合基础传感器组与辅助传感器组的温度数据流，执行时空校准计算生成优化温度场分布图；本发明提升了动态场景下温度测量的覆盖完整性与结果准确性。
天眼查资料显示，深圳宇问测量技术有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳宇问测量技术有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息23条，专利信息35条，此外企业还拥有行政许可8个。
来源：金融界
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