特思迪半导体申请谱学测量数据中多峰识别等相关专利，消除基线干扰
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2025-07-19 10:11:19
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金融界2025年7月19日消息，国家知识产权局信息显示，北京特思迪半导体设备有限公司申请一项名为“谱学测量数据中多峰的识别方法、厚度测量方法及设备”的专利，公开号CN120336829A，申请日期为2025年06月。
专利摘要显示，本发明提供一种谱学测量数据中多峰的识别方法、厚度测量方法及设备，涉及数据处理技术领域。该方法包括：获取目标谱学测量数据；对目标谱学测量数据进行差分处理，得到差分谱学测量数据；基于差分谱学测量数据按照多峰导数方程进行拟合，得到第一拟合结果；多峰导数方程基于目标谱学测量数据的多峰参数方程得到；将第一拟合结果的参数为初始猜测，基于目标谱学测量数据按照多峰参数方程进行拟合，得到第二拟合结果，第二拟合结果中包含多峰的位置信息。通过实施本发明，能够消除基线干扰，增强峰特征识别准确度。并且能够避免拟合算法因随机初始值导致失败，提升收敛速度和稳定性，进一步提升对多峰特征的识别准确度。
天眼查资料显示，北京特思迪半导体设备有限公司，成立于2020年，位于北京市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1656.925954万人民币。通过天眼查大数据分析，北京特思迪半导体设备有限公司参与招投标项目110次，财产线索方面有商标信息32条，专利信息151条，此外企业还拥有行政许可21个。
来源：金融界
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