金融界2025年7月19日消息,国家知识产权局信息显示,北京特思迪半导体设备有限公司申请一项名为“谱学测量数据中多峰的识别方法、厚度测量方法及设备”的专利,公开号CN120336829A,申请日期为2025年06月。
专利摘要显示,本发明提供一种谱学测量数据中多峰的识别方法、厚度测量方法及设备,涉及数据处理技术领域。该方法包括:获取目标谱学测量数据;对目标谱学测量数据进行差分处理,得到差分谱学测量数据;基于差分谱学测量数据按照多峰导数方程进行拟合,得到第一拟合结果;多峰导数方程基于目标谱学测量数据的多峰参数方程得到;将第一拟合结果的参数为初始猜测,基于目标谱学测量数据按照多峰参数方程进行拟合,得到第二拟合结果,第二拟合结果中包含多峰的位置信息。通过实施本发明,能够消除基线干扰,增强峰特征识别准确度。并且能够避免拟合算法因随机初始值导致失败,提升收敛速度和稳定性,进一步提升对多峰特征的识别准确度。
天眼查资料显示,北京特思迪半导体设备有限公司,成立于2020年,位于北京市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1656.925954万人民币。通过天眼查大数据分析,北京特思迪半导体设备有限公司参与招投标项目110次,财产线索方面有商标信息32条,专利信息151条,此外企业还拥有行政许可21个。
来源:金融界