国家知识产权局信息显示,南京邮电大学;南京邮电大学南通研究院有限公司申请一项名为“一种相变存储器阵列故障测试电路”的专利,公开号CN122090910A,申请日期为2026年2月。
专利摘要显示,本发明涉及相变存储器测试技术领域,具体为一种相变存储器阵列故障测试电路,包括:存储单元读写电路、双路径电流实时监测电路和并行参考读取检测电路;其中,存储单元读写电路与1T1R相变存储单元连接,双路径电流实时监测电路分别与位线路径和源线路径连接,在写入操作期间对位内线电流与源内线电流进行同步采样与动态对比,并输出对应的判决信号;并行参考读取检测电路与所述双路径电流实时监测电路的输出端连接,将被测电流复制至多个分支并与多级参考电流并行比较。本发明所提出的相变存储器阵列故障测试电路能够在阵列级测试过程中实现在线电流监测与快速逻辑判决,提升对短路、桥接、开路等电阻型缺陷及其引发的复合异常的检测能力。
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来源:市场资讯