无锡和成电子申请老化振动测试装置专利，有效保证测试过程中电容的稳定_电子应用

无锡和成电子申请老化振动测试装置专利，有效保证测试过程中电容的稳定

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2025-05-31 12:32:15

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金融界2025年5月31日消息，国家知识产权局信息显示，无锡和成电子有限公司申请一项名为“一种老化振动测试装置”的专利，公开号CN120064863A，申请日期为2025年02月。

专利摘要显示，本发明公开了一种老化振动测试装置，涉及电容老化测试技术领域，其技术方案包括测试箱，测试箱内部设置有传动机构，传动机构前端固定连接有振动机构，振动机构上部固定连接有夹持机构，夹持机构包括固定连接在振动机构上部的夹持壳体，夹持壳体上部设置有第一电机，第一电机输出端设置有第五齿轮，本发明中，电容放置在夹持件中间位置，接着启动夹持机构可带动两侧的夹持件向内闭合，从而有效对电容进行夹持固定，而且还可根据电容的规格灵活调节夹持距离，有效保证测试过程中电容的稳定，当需要对电容进行振动测试时，人员无需将电容固定到振动机上，只需启动夹持机构下部的振动机构，通过振动机构可带动夹持机构上下高频震动。

天眼查资料显示，无锡和成电子有限公司，成立于2008年，位于无锡市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本560万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡和成电子有限公司财产线索方面有商标信息2条，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可3个。

来源：金融界

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