奥芯半导体申请玻璃基板缺陷检测装置及其检测方法专利，提高原料利用率
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2025-05-31 19:33:54
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金融界2025年5月31日消息，国家知识产权局信息显示，奥芯半导体科技（太仓）有限公司申请一项名为“玻璃基板缺陷检测装置及其检测方法”的专利，公开号CN120064310A，申请日期为2025年04月。
专利摘要显示，本发明属于缺陷检测技术领域，具体涉及透明材料的缺陷检测，尤其涉及一种玻璃基板缺陷检测装置及其检测方法，其中，玻璃基板缺陷检测装置通过在检测板上设置容纳槽，并在容纳槽中加入液体形成水膜，对玻璃基板进行保护，在避免玻璃基板划伤的同时，不会将玻璃基板抬高，进而不会对机器视觉检测造成干扰，同时，设置两种检测工况，通过两种检测工况的图像信息的比对，完成对待检测玻璃基板的两面的划痕的精准检测，在后续切割时，无需避开划痕，只需加深划痕所在面的减薄即可，从而提高了原料利用率。
天眼查资料显示，奥芯半导体科技（太仓）有限公司，成立于2022年，位于苏州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本30685万人民币。通过天眼查大数据分析，奥芯半导体科技（太仓）有限公司参与招投标项目19次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息30条，此外企业还拥有行政许可37个。
来源：金融界
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