金融界2025年6月3日消息,国家知识产权局信息显示,德州仪器公司申请一项名为“基于用户数据进行存储器测试的存储器BIST电路”的专利,公开号CN120092292A,申请日期为2023年11月。
专利摘要显示,一种电子电路包含:存储器(102),其包含数据输入、地址输入、命令输入和数据输出;寄存器(112),其具有耦合到所述存储器的所述数据输出的数据输入;比较器电路(115),其具有耦合到所述存储器的所述数据输出的第一数据输入,和耦合到所述寄存器的数据输出的第二数据输入;反相器电路(114),其具有耦合到所述寄存器的所述数据输出的数据输入,和耦合到所述存储器的所述数据输入的数据输出;以及控制器(101),其具有耦合到所述存储器的所述命令输入的命令输出、耦合到所述存储器的所述地址输入的地址输出以及耦合到所述比较器电路的数据输出的故障输入,其中所述控制器经配置以基于所述控制器的所述故障输入而确定所述存储器是否具有故障。
来源:金融界