金融界2025年6月10日消息,国家知识产权局信息显示,成都紫光半导体科技有限公司申请一项名为“缺陷观测方法、装置、存储介质及电子设备”的专利,公开号CN120127017A,申请日期为2023年12月。
专利摘要显示,本公开涉及半导体制造技术领域,提供一种缺陷观测方法,该缺陷观测方法包括:获取晶圆片上每个芯片的测量信息,并根据晶圆片上每个芯片的测量信息确定出晶圆片上的异常区域;获取根据预设缺陷检测策略确定出的晶圆片上的多个缺陷位置;根据异常区域,从多个缺陷位置中确定出目标缺陷位置以观测缺陷。从多个缺陷位置中确定出来目标缺陷位置以观测缺陷,缩减了用于缺陷观测的缺陷位置的数量,节约了缺陷观测耗时,从而使得半导体生产效率增高,且通过异常区域确定出的目标观测位置进行缺陷观测,也能保证缺陷观测的最终结果。
天眼查资料显示,成都紫光半导体科技有限公司,成立于2022年,位于成都市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本25000万人民币。通过天眼查大数据分析,成都紫光半导体科技有限公司专利信息28条。
来源:金融界