兆易创新申请芯片测试模式进入方法相关专利，解决芯片在正常工作状态下端口电压上的波动触发芯片测试模式的问题_电子应用

兆易创新申请芯片测试模式进入方法相关专利，解决芯片在正常工作状态下端口电压上的波动触发芯片测试模式的问题

创始人

2025-08-23 14:37:04

0次

金融界2025年8月23日消息，国家知识产权局信息显示，兆易创新科技集团股份有限公司申请一项名为“芯片测试模式进入方法、装置、设备、介质及程序产品”的专利，公开号CN120522538A，申请日期为2024年02月。

专利摘要显示，本公开提供一种芯片测试模式进入方法、装置、设备及存储介质，属于集成电路技术领域。该方法包括：供电端口被配置为第一电位；使能端口被配置为第二电位；若第二电位大于第一电位，芯片进入等待测试模式。本公开应用于上电后的芯片，芯片可以包括使能端口和供电端口，供电端口被配置为第一电位，使能端口被配置为第二电位。若第二电位大于第一电位，芯片进入等待测试模式。本公开通过向供电端口和使能端口上配置电压，并比较供电端口和使能端口上的电压，若第二电位大于第一电位，芯片进入等待测试模式，从而解决了芯片在正常工作状态下端口电压上的波动触发芯片测试模式的问题。

天眼查资料显示，兆易创新科技集团股份有限公司，成立于2005年，位于北京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本66412.4105万人民币。通过天眼查大数据分析，兆易创新科技集团股份有限公司共对外投资了24家企业，参与招投标项目25次，财产线索方面有商标信息53条，专利信息1336条，此外企业还拥有行政许可8个。

来源：金融界

企业供电测试模式正常工作电位兆易芯片波动端口专利模式电压

上一篇：新博机电取得接近开关铜外壳专利，降低该产品的生产成本

下一篇：宁波泰丰源电气申请一种罗氏线圈电流互感器及电流测量系统专利，使电流测量结果更精确

兆易创新申请芯片测试模式进入方法相关专利，解决芯片在正常工作状态下端口电压上的波动触发芯片测试模式的问题

相关内容

热门资讯