ELSZ-2000ZS 电位粒径分子量 OTSUKA大塚电子

●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...

产品信息

型号 粒径测量 ZETA电位测量 分子量测量 PH滴定测量

ELSZ-2000ZS ● ● ● ●*1

ELSZ-2000Z ● ● - ●*1

ELSZ-2000S ● - ● ●*2

选型表

*1：需搭配选配件PH滴定仪 *2：需搭配选配件PH滴定仪和粒径流动容器

特点

● 最新型号高灵敏度APD，提高灵敏度，缩短测量时间

● 通过自动温度梯度测量可以进行变性、相变温度分析

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 增加宽范围分子量测定和分析功能

● 可对应浑浊的高浓度样品的粒径·ZETA电位测定

● 测量样品池内的电渗透流，通过图谱分析提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可对应高盐浓度溶液的ZETA电位测定

● 可对应小尺寸固体样品的ZETA电位测量

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅对应微小颗粒，还适用于薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。

● 陶瓷/着色材料工业领域

陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

浆料状样品

滤光器

浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

异物附着在硅晶片表面的原理解析

研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

CMP浆料的相互作用

● 高分子聚合物/化工领域

乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能性研究、功能纳米颗粒

纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

原理

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关法）

分散在溶液中的粒子，因其布朗运动受到粒径大小影响，当大粒子受到光照射时所得到的散射光变化较为缓和，而小粒子则较为剧烈。

通过光子相关法分析这种波动，可以求得粒径和粒径分布。