南通普智芯科技申请基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法专利，为精确测试霍尔开关器件的延迟特性提供了坚实的基础_电子应用

南通普智芯科技申请基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法专利，为精确测试霍尔开关器件的延迟特性提供了坚实的基础

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2026-01-29 15:11:38

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国家知识产权局信息显示，南通普智芯科技有限公司申请一项名为“基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法”的专利，公开号CN121410522A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明提供基于霍尔开关器件的延迟测试系统及方法，包括：磁场发生模块：包含可编程电流源和线圈，产生精确控制的磁场变化；温度控制模块：集成温度传感器和加热/冷却装置，实现恒温或温度扫描测试；信号采集模块：高频采样设备采集霍尔器件输出信号；数据处理模块：嵌入式处理器实现自动阈值检测和延迟计算；通用测试接口：可更换探针的测试座适配不同封装器件；数字通信接口：SPI或I2C接口输出测试结果；本发明中，主要结构涵盖了磁场发生模块、温度控制模块、信号采集模块、数据处理模块、通用测试接口、数字通信接口和阈值标定模块等，这些模块相互协作，为精确测试霍尔开关器件的延迟特性提供了坚实的基础。

天眼查资料显示，南通普智芯科技有限公司，成立于2024年，位于南通市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1500万人民币。通过天眼查大数据分析，南通普智芯科技有限公司专利信息3条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

接口控制器件霍尔测试开关南通智芯模块专利

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