国家知识产权局信息显示,湖北长江万润半导体技术有限公司申请一项名为“一种闪存芯片的抽样测试方法、设备及介质”的专利,公开号CN121565229A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明公开一种闪存芯片的抽样测试方法、设备及介质,该方法包括:确定闪存芯片单位码长最大错误比特数和页面最大误码率;将块划分为相同的若干个区域;对于所有块的每一个区域,将单位码长错误比特数从大到小排序,选取前第一比例的单位码长错误比特数并记录所在的页面集合;对于所有块的同一个区域,选取出现次数超过第一阈值的页面;合并所有区域,得到块测试页面地址组合;对闪存芯片的所有块的块测试页面地址组合执行擦写读操作,获取单位码长最大错误比特数和页面最大误码率;若前后差值的绝对值均在预设阈值内,则利用块测试页面地址组合对同一个规格批次的闪存芯片进行测试。本发明在确保测试结果可靠的同时可有效减少测试时间和成本。
天眼查资料显示,湖北长江万润半导体技术有限公司,成立于2022年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本3500万人民币。通过天眼查大数据分析,湖北长江万润半导体技术有限公司参与招投标项目2次,财产线索方面有商标信息6条,专利信息44条,此外企业还拥有行政许可1个。
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来源:市场资讯