瑞昱半导体申请电路测试系统专利，该第一目标电路根据该第一控制信号而运作在一通常模式、一扫描移位模式以及一扫描捕获模式其中之一
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2026-03-10 17:55:19
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国家知识产权局信息显示，瑞昱半导体股份有限公司申请一项名为“电路测试系统”的专利，公开号CN121633771A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明提供一种电路测试系统，包括：一第一测试电路，包括一第一输出端，该第一输出端耦接一第一目标电路的一第一扫描控制端，该第一测试电路用于接收一测试模式信号以及一扫描使能信号，并根据该测试模式信号以及该扫描使能信号产生一第一控制信号；其中该第一目标电路根据该第一控制信号而运作在一通常模式、一扫描移位模式以及一扫描捕获模式其中之一。
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来源：市场资讯
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