金融界2025年5月30日消息,国家知识产权局信息显示,重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司申请一项名为“一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统”的专利,公开号CN120063586A,申请日期为2025年04月。
专利摘要显示,本发明涉及动平衡校正技术领域,具体涉及一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统。一种芯片动平衡测试用校正系统,包括:不平衡频域特征向量构建模块、不平衡量分析模块、动平衡校正模块和强化学习模块。本发明通过对陀螺仪和加速度计采集的电信号进行频域分析,再通过峰值查找算法确定芯片不平衡对应的振动信号特征,进而通过不平衡量分析模型和动平衡校正模型的配合,确定芯片动平衡校正对应的动平衡校正参数集,通过动平衡校正参数集对安装在芯片上的IPMC薄膜层对应的IPMC阵列单元进行驱动电压调整,以实现对芯片质量分布的调整,进而实现对芯片的动平衡校正。
天眼查资料显示,重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司,成立于2021年,位于重庆市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司参与招投标项目3次,财产线索方面有商标信息1条,专利信息3条,此外企业还拥有行政许可2个。
来源:金融界