长迈半导体取得预推机构及老化测试装置专利，避免对插时老化测试板不到位或滑落
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2025-07-20 01:08:36
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金融界2025年7月19日消息，国家知识产权局信息显示，长迈半导体（成都）有限公司取得一项名为“一种预推机构及老化测试装置”的专利，授权公告号CN223123081U，申请日期为2024年09月。
专利摘要显示，本实用新型涉及一种预推机构及老化测试装置。该预推机构包括：机架，具有一用于收容承载架的收容空间，承载架用于装载老化测试板；及预推单元，包括预推组件和驱动组件，预推组件活动连接在机架上且具有推杆，驱动组件与预推组件驱动连接，用于驱动预推组件相对机架运动，以带动推杆将承载架上的老化测试板抵推至预设位置。如此，避免承载架上存在未到位的老化测试板，确保对插机构能够准确地将各个老化测试板对插至测试机构上的各个插接头上，避免出现对插机构勾拉不到老化测试板或老化测试板滑落等现象。
天眼查资料显示，长迈半导体（成都）有限公司，成立于2023年，位于成都市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，长迈半导体（成都）有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息85条，此外企业还拥有行政许可2个。
来源：金融界
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