国家知识产权局信息显示,北京集成电路装备创新中心有限公司申请一项名为“一种半导体器件的制备工艺”的专利,公开号CN121368161A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本发明提供一种半导体器件的制备工艺,涉及半导体技术领域。该半导体器件的制备工艺包括:主形成步:在衬底上形成基体结构,基体结构包括鳍部,鳍部、假栅部和外隔离墙;其中,鳍部包括自下而上交替堆叠的牺牲层和沟道层,且牺牲层的两端形成内墙空腔;沿远离假栅部的方向,外隔离墙的厚度大于预设厚度,预设厚度为成品半导体器件中外隔离墙的厚度;填充步:在内墙空腔内填充内墙层;外隔离墙刻蚀步:刻蚀去除第一加厚部;形貌修正步:以假栅部和外隔离墙为掩膜,对沟道层和内墙层进行图案化处理,内墙层的剩余部分作为内侧墙。该制备工艺中形成的内侧墙能够确保对源层和漏层的电学隔离作用,从而确保半导体器件的性能。
天眼查资料显示,北京集成电路装备创新中心有限公司,成立于2019年,位于北京市,是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本1113950万人民币。通过天眼查大数据分析,北京集成电路装备创新中心有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目4次,财产线索方面有商标信息1条,专利信息97条,此外企业还拥有行政许可6个。
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来源:市场资讯