金融界2025年6月4日消息,国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法、以及检测方法”的专利,公开号CN120091576A,申请日期为2023年11月。
专利摘要显示,本发明实施例提供一种半导体结构及其形成方法、以及检测方法,形成方法包括:去除伪栅结构的伪栅层后,利用金属硅化物工艺进行伪栅残留标定操作,用于将硅材料转化为金属硅化物材料。本发明实施例通过利用金属硅化物工艺进行伪栅残留标定操作,即将硅材料转化为金属硅化物材料,由于金属硅化物材料含有金属,与半导体材料、介电材料存在差异性,因此,在后续进行电子束检测时,金属硅化物材料与其他材料的背散射信号存在差异,易于被辨别,从而提高了对伪栅层残留物的检测准确性;而且,在利用金属硅化物工艺进行伪栅残留标定操作后,即可进行针对残留物的检测,有利于提高对伪栅层残留物的检测实时性。
天眼查资料显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,成立于2000年,位于上海市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元。通过天眼查大数据分析,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目127次,财产线索方面有商标信息149条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可443个。
来源:金融界