金融界2025年6月7日消息,国家知识产权局信息显示,德州仪器公司申请一项名为“具有低纵横比硅通孔的传感器封装”的专利,公开号CN120113368A,申请日期为2023年11月。
专利摘要显示,电子装置(100)包含:半导体衬底(112),其具有在所述半导体衬底(112)的第一侧(115)上的第一导电布线结构(121);以及低纵横比通孔开口(117),其从所述第一侧(115)延伸到相对的第二侧(116)。所述电子装置(100)包含透明盖(124),其在所述第一侧(115)的一部分上方并且覆盖图案化的第一导电布线结构(121);以及绝缘体层(131),其包含在所述第二侧(116)上并且沿着所述通孔开口(117)的侧壁(118)的光可成像材料;以及第二导电布线结构(132),其在所述绝缘体层(131)的外侧上并且延伸穿过所述通孔开口(117)并直接接触所述第一导电布线结构(121)的一部分。
来源:金融界