金融界2025年6月2日消息,国家知识产权局信息显示,上海积塔半导体有限公司申请一项名为“单晶硅片及单晶硅片的处理方法”的专利,公开号CN120060974A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本申请提供了一种单晶硅片及单晶硅片的处理方法,所述单晶硅片包括主体部和位于主体部外围的倒角部,倒角部的第一侧形成第一倒角面,倒角部的第二侧形成第二倒角面;第一倒角面的内边缘与外边缘在厚度方向上具有第一距离,第二倒角面的内边缘与外边缘在宽度方向上具有第二距离,第二距离小于第一距离;第一倒角面的内边缘与外边缘在厚度方向上具有第三距离,第二倒角面的内边缘与外边缘在厚度方向上具有第四距离,第四距离小于第三距离。本申请在单晶硅片的边缘形成不对称的倒角,倒角部的第二侧可以与反应设备的基座更贴合,受力面更均匀,在快速升温的过程中可有效降低应力,减少崩边、暗纹碎片的产生。
来源:金融界