金融界 2025 年 5 月 17 日消息,国家知识产权局信息显示,上海华力微电子有限公司申请一项名为“一种 WAT 测试结构”的专利,公开号 CN119993959A,申请日期为 2025 年 2 月 。
专利摘要显示,本发明公开了一种 WAT 测试结构,属于半导体技术领域,该 WAT 测试结构,包括衬底,所述衬底的预定深处设置至少一 DNPPD 区,所述DNPPD 区的顶部分别设置有 SDP 和 SDN,用于接出进行电性测试,所述DNPPD 区中还设置有第二 DPW,所述第二 DPW 和所述 SDP 之间设置至少一 P 型离子掺杂区,以连接所述 SDP 和所述第二 DPW,且所述 SDN 和所述DNPPD 区之间设置至少一 N 型离子掺杂区,以连接所述 SDN 和所述 DNPPD 区。通过将 DNPPD 区上的 SDP 和 SDN 接出,测试 DNPPD 区的电阻,通过电阻值评估不同尺寸像素结构中厚胶层次离子注入角度。
来源:金融界