华大基因申请芯片质量检测专利，实现对芯片瑕疵的自动检测
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2025-07-18 16:39:34
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金融界2025年7月18日消息，国家知识产权局信息显示，深圳华大生命科学研究院、深圳华大基因科技有限公司申请一项名为“芯片质量检测的方法及装置、电子设备和存储介质”的专利，公开号CN120344992A，申请日期为2022年12月。
专利摘要显示，本公开提供了一种芯片质量检测的方法及装置、电子设备和存储介质，将每张芯片中的至少一个视场进行编号处理，得到每个视场的标识信息；基于标识信息，分别获取至少一个视场的第一通道图像与第二通道图像；基于第一通道图像与第二通道图像的图像特征，对至少一个视场进行图像处理分析；根据预设阈值组合以及图像处理分析结果，对芯片的质量进行判定。本公开实施例通过将芯片划分为至少一个视场再进行处理，通过对每个视场的不同通道图像的分析，进而实现对芯片质量的检测；现有技术中，主要用人工抽样观测来记录芯片图像的各项参数；本公开可以实现对芯片瑕疵的自动检测，可以提高检测的准确度以及实现标准化检测。
来源：金融界
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