微源半导体申请单片机性能测试相关专利提高MCU性能验证的效率_行业新闻

微源半导体申请单片机性能测试相关专利提高MCU性能验证的效率

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2025-05-20 14:35:02

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金融界2025年5月20日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市微源半导体股份有限公司申请一项名为“单片机性能测试方法、板卡、设备、存储介质及程序产品”的专利，公开号CN120011162A，申请日期为2025年04月。

专利摘要显示，本申请提供了一种单片机性能测试方法、板卡、设备、存储介质及程序产品，FPGA板卡包括诊断分析模块和用于模拟设计阶段的单片机模型的功能的单片机模块。诊断分析模块在确定来自上位机的预设报文为第一类报文时，解析第一类报文得到测试用例信息；根据测试用例信息，控制单片机模块对单片机模型的待测试功能进行模拟测试，并获得待测试功能的测试结果，单片机模块中烧录有运行待测试功能的程序数据；根据待测试功能的测试结果，生成测试结果的UDP报文的，并将测试结果的UDP报文发送至上位机，以使上位机解析得到表征待测试功能是否通过测试的测试结果，并显示测试结果，提高了MCU性能验证的效率，同时还减少了对硬件测试设备的依赖，降低了测试成本。

天眼查资料显示，深圳市微源半导体股份有限公司，成立于2010年，位于深圳市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本36000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市微源半导体股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息114条，此外企业还拥有行政许可23个。

来源：金融界

企业信息相关测试深圳市性能导体微源专利单片机上位机模块报文板卡

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