金融界2025年5月20日消息,国家知识产权局信息显示,常州维普半导体设备有限公司申请一项名为“掩模表面颗粒缺陷检测方法”的专利,公开号CN120009306A,申请日期为2025年01月。
专利摘要显示,本发明公开了掩模表面颗粒缺陷检测方法,方法的步骤中含有:S1:将透射光下采集的透射光图像作为检测图像,反射光下采集的反射光图像作为屏蔽信号检测透射光下掩模的缺陷;其中,步骤S1具体为:S11:初始化缺陷结果矩阵C;S12:对透射光采集掩模的透射光图像位移N个像素,得位移后透射光图像,对位移后透射光图像和原透射光图像求灰度差,得透射差值图;S13:对反射光采集掩模的反射光图像反色,得反色后反射光图像;S14:对反色后反射光图像位移N个像素,得位移后反射光图像,对位移后反射光图像和反色后反射光图像求灰度差,得反射差值图。通过该方法可以不需要提供掩模设计文件,并提高检测效果。
天眼查资料显示,常州维普半导体设备有限公司,成立于2019年,位于常州市,是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本346.6326万人民币。通过天眼查大数据分析,常州维普半导体设备有限公司共对外投资了2家企业,专利信息22条,此外企业还拥有行政许可8个。
来源:金融界