芯哲微电子申请三极管特征频率测试装置专利，大幅提升测试效率
创始人
2025-12-27 21:10:46
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国家知识产权局信息显示，上海芯哲微电子科技股份有限公司申请一项名为“一种三极管特征频率测试装置”的专利，公开号CN121208435A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明适用于半导体测试技术领域，提供了一种三极管特征频率测试装置，包括测试机，配置为控制测试流程，并设有多个输入/输出接口，用于发送指令和接收反馈信号；微控制单元，连接至测试机，用于根据测试机的指令生成数字代码；数字电位器，连接至微控制单元，用于根据数字代码调节电阻值，波形发生器，连接至数字电位器，用于基于调节后的电阻值产生高频测试信号，信号采集单元，配置为测量被测三极管的基极电流、集电极电流和输出频率；装置通过MCU自动扫描数字代码，在ft默认值附近迭代测试，直至Ic/Ib≈1，替代了传统手动扫频，大幅提升效率，适合批量样品连续测试，数据可直接存储或用于产线快速对比，避免了后期处理延迟。
天眼查资料显示，上海芯哲微电子科技股份有限公司，成立于2007年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本27478.778万人民币。通过天眼查大数据分析，上海芯哲微电子科技股份有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息142条，此外企业还拥有行政许可53个。
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来源：市场资讯
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