桂林雷光科技申请激光器芯片加速老化测试方法专利，提高了激光器芯片的加速老化测试准确率
创始人
2026-01-12 13:37:39
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国家知识产权局信息显示，桂林雷光科技有限公司申请一项名为“一种激光器芯片加速老化测试方法”的专利，公开号CN121299408A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明涉及老化测试技术领域，公开了一种激光器芯片加速老化测试方法，其中，该方法包括：对加速老化环境下的激光器芯片进行光功率、阈值电流、斜率效率、出射波长的同步测量，得到时序数据矩阵；对时序数据矩阵进行双稀疏字典分解，得到正常特征系数和退化特征系数；基于退化特征系数计算时变协方差矩阵的目标特征值，并根据目标特征值生成动态特征值序列和对应的退化阶段标识；基于退化阶段标识，将动态特征值序列输入寿命预测模型进行寿命预测，得到剩余使用寿命，该方法能够准确捕获激光器芯片退化过程的非线性特征和时间演化模式，自动识别对寿命预测贡献最大的时间段特征，进而提高了激光器芯片的加速老化测试准确率。
天眼查资料显示，桂林雷光科技有限公司，成立于2016年，位于桂林市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本4000万人民币。通过天眼查大数据分析，桂林雷光科技有限公司专利信息20条，此外企业还拥有行政许可30个。
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来源：市场资讯
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