上海集成电路研发中心申请坏簇检测方法和计算机设备专利，提高图像传感器的坏簇检测的准确性_行业新闻

上海集成电路研发中心申请坏簇检测方法和计算机设备专利，提高图像传感器的坏簇检测的准确性

创始人

2026-02-06 19:12:10

0次

国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司申请一项名为“坏簇检测方法和计算机设备”的专利，公开号CN121458990A，申请日期为2024年7月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种坏簇检测方法和计算机设备，涉及计算机技术领域。该方法包括：基于获取的待处理图像数据中的待检测数据，以及与待检测数据相对应的邻域数据，计算待检测数据和邻域数据分别对应的特征矩阵；基于特征矩阵确定各待检测数据的数据属性信息，并基于数据属性信息，确定待处理图像数据中所包括的坏簇区域；基于坏簇区域的空间分布信息，确定坏簇区域的空域特征信息，并基于坏簇区域的空域特征信息，对坏簇区域进行分类处理，得到坏簇区域对应的初始分类结果；基于坏簇区域在多个预设时刻下的时域特征信息，和坏簇区域对应的初始分类结果，确定坏簇区域的目标分类结果。该方法用以达到提高图像传感器的坏簇检测的准确性的效果。

天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目296次，财产线索方面有商标信息95条，专利信息2165条，此外企业还拥有行政许可88个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

数据投资信息待处理检测图像传感器集成电路专利区域邻域图像传感器

上一篇：国能朔黄铁路申请地网电阻测量方法专利，能够精确地对地网的电阻进行测量

下一篇：明阳智能战略性收购德华芯片切入空间电源赛道打造关键闭环

上海集成电路研发中心申请坏簇检测方法和计算机设备专利，提高图像传感器的坏簇检测的准确性

相关内容

热门资讯