国家知识产权局信息显示,日月新半导体(苏州)有限公司申请一项名为“一种集成电路测试方法”的专利,公开号CN121633783A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明公开了一种集成电路测试方法,本发明属于半导体技术领域,包括步骤一:来料:准备待检测产品;步骤二:产品常规电性测试:所述产品放置在温度测试机内完成常规电性测试;步骤三:AOI检测:检测所述产品标识或外观等是否损坏,并筛选测试废品;步骤四:FT2测试:通过测试机对所述产品完成开短路测试和漏电测试。本发明通过开发测试机平台程序,增加开短路测试与漏电测试,在产品进载带前,筛选出封装开裂的异常单元,避免测试逃逸。
天眼查资料显示,日月新半导体(苏州)有限公司,成立于2001年,位于苏州市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本4867.235964万美元。通过天眼查大数据分析,日月新半导体(苏州)有限公司共对外投资了2家企业,参与招投标项目46次,财产线索方面有商标信息6条,专利信息387条,此外企业还拥有行政许可65个。
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来源:市场资讯