国家知识产权局信息显示,达发科技股份有限公司申请一项名为“取样系统”的专利,公开号CN121643744A,申请日期为2024年11月。
专利摘要显示,取样系统包含取样器电路、第一稳定误差消除器电路及第二稳定误差消除器电路。于第一阶段,该取样器电路与该第一稳定误差消除器电路均执行取样操作,且该第二稳定误差消除器电路执行保持操作。于第二阶段,该取样器电路与该第二稳定误差消除器电路执行电荷再分布,且该第一稳定误差消除器电路执行保持操作。于第三阶段,该取样器电路与该第二稳定误差消除器电路均执行取样操作,且该第一稳定误差消除器电路执行保持操作。于第四阶段,该取样器电路与该第一稳定误差消除器电路执行电荷再分布,且该第二稳定误差消除器电路执行保持操作。
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