国家知识产权局信息显示,FEI公司申请一项名为“针对电子显微镜的磁放大控制”的专利,公开号CN121662688A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,本文提供了针对电子显微镜的磁放大控制的系统或技术。在各种实施例中,系统可包括电子显微镜,该电子显微镜使电子衍射穿过分析样品,并使用一个或多个磁浸没场来修改电子到电子检测器上的轨迹。
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来源:市场资讯
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