舟鸿半导体申请存储芯片FT测试中的错误注入与容错测试系统专利，实现对芯片容错能力的自动化、高强度压力测试与全面评估_行业新闻

舟鸿半导体申请存储芯片FT测试中的错误注入与容错测试系统专利，实现对芯片容错能力的自动化、高强度压力测试与全面评估

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2026-03-17 02:42:08

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国家知识产权局信息显示，深圳市舟鸿半导体科技有限公司申请一项名为“存储芯片FT测试中的错误注入与容错测试系统”的专利，公开号CN121658304A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体测试技术领域，具体公开了存储芯片FT测试中的错误注入与容错测试系统。该系统包括测试控制主机、可编程错误注入模块、协议状态监控模块、多维度响应分析模块及测试场景生成引擎。通过协同工作，系统能够自动生成并发错误序列并注入，非侵入式监控协议内部状态，并进行时序、逻辑与统计分析，实现对芯片容错能力的自动化、高强度压力测试与全面评估。该系统通过构建可编程错误注入模块与测试场景生成引擎的闭环系统，实现了对存储芯片容错协议高强度、高并发的自动化压力测试。

天眼查资料显示，深圳市舟鸿半导体科技有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1764.7059万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市舟鸿半导体科技有限公司共对外投资了3家企业，财产线索方面有商标信息4条，专利信息17条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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