宏芯宇申请芯片测试方法、系统专利，提升芯片测试效果
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2025-07-07 18:17:31
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金融界2025年7月7日消息，国家知识产权局信息显示，深圳宏芯宇存储技术有限公司申请一项名为“芯片测试方法、系统”的专利，公开号CN120254569A，申请日期为2025年04月。
专利摘要显示，本申请公开一种芯片测试方法、系统，所述芯片测试方法应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试盒及通讯板，所述通讯板设有第一连接件，所述测试盒设有第二连接件，且处于上电状态；其中，所述芯片测试方法包括：在所述通讯板的第一连接件与所述测试盒的第二连接件连接后，收到第一连接确认信息；在接收所述第一连接确认信息后，根据预设地址表，向所述通讯板下发初始化命令；当接收到所述通讯板针对所述初始化命令反馈的确认响应信息时，控制所述测试盒执行初始化工作。
天眼查资料显示，深圳宏芯宇存储技术有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳宏芯宇存储技术有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目3次，专利信息3条，此外企业还拥有行政许可4个。
来源：金融界
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