国家知识产权局信息显示,成都新紫光半导体科技有限公司申请一项名为“透射电镜试片的处理方法和透射电镜试片”的专利,公开号CN121633149A,申请日期为2024年9月。
专利摘要显示,本公开涉及一种透射电镜试片的处理方法和透射电镜试片,透射电镜试片包括多个间隔设置的孔洞,孔洞的内壁设置有包括多层结构的扩散阻挡层,处理方法包括:对扩散阻挡层的表面设置有第一保护层;在孔洞中划分保留区,且保留区中划分相对设置的第一边缘线和第二边缘线,其中,保留区包括位于孔洞的边缘的两个弧形段,第一边缘线和第二边缘线连接在两个弧形段之间;从保留区的外侧切割透射电镜试片直至第一边缘线;从保留区的外侧切割透射电镜试片直至第二边缘线;除去第一保护层的剩余部分。这样,可以将孔洞的截面露出,观察孔洞内壁表面的扩散阻挡层的分层,使多层之间的界限更明显,更容易检查扩散阻挡层的涂覆情况,判断是否有漏涂现象。
天眼查资料显示,成都新紫光半导体科技有限公司,成立于2022年,位于成都市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本25000万人民币。通过天眼查大数据分析,成都新紫光半导体科技有限公司专利信息62条。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
来源:市场资讯