浙江工业大学申请高精度晶振片动态频率测量方法专利，能实现高精度低成本的频率测量
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2025-12-31 17:37:34
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国家知识产权局信息显示，浙江工业大学;嘉兴晶控电子有限公司申请一项名为“一种高精度晶振片动态频率测量方法”的专利，公开号CN121231855A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，一种高精度晶振片动态频率测量方法，包括：1)在上位机上设置目标频率，通过串口与下位机中的单片机通信，发送给下位机。2)获取被测晶片在交变电场中的信号。3)制作频率查找表。4)校准被测晶片信号。5)对校准后的电压信号进行AD转换，输出所述校准后的电压信号的编码至单片机，找出编码对应的频率，通过串口发送至上位机，显示测得的石英晶片频率。本发明能实现高精度低成本的频率测量。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
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