国家知识产权局信息显示,万国半导体国际有限合伙公司申请一项名为“带有沟槽内ESD结构的沟槽晶体管的制造”的专利,公开号CN121237782A,申请日期为2025年6月。
专利摘要显示,本发明公开了一种沟槽晶体管和制造方法,包括半导体衬底,所述半导体衬底包括第一导电类型的离子,其中所述第一导电类型的离子与第二导电类型的离子相反。在所述半导体衬底中形成一个静电放电保护(ESD)沟槽,并在所述半导体衬底的ESD沟槽表面上形成一个下部绝缘层。在所述ESD沟槽中的所述下部绝缘层上形成一个氮化物层,并在所述氮化物层上形成一个上部绝缘层。在所述上部绝缘层上形成一个ESD半导体层。
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