金融界2025年6月2日消息,国家知识产权局信息显示,江苏微导纳米科技股份有限公司申请一项名为“测量装置、半导体设备及测量管路清洗效率的方法”的专利,公开号CN120063188A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本申请提供了一种测量装置、半导体设备及测量管路清洗效率的方法,测量装置用于测量半导体设备中管路的清洗效率,测量装置包括支架、承载件和测试片,支架设置于两根管路的法兰之间;承载件设置于支架;测试片设置于承载件的外表面。本申请通过在半导体设备中设置测量装置,可以对半导体设备管路的清洗效率进行侦测,直观反映清洗效果,并且测量装置拆装简单,利于操作。
来源:金融界