金融界2025年6月14日消息,国家知识产权局信息显示,格科半导体(上海)有限公司申请一项名为“半导体器件的形成方法”的专利,公开号CN120149260A,申请日期为2023年12月。
专利摘要显示,一种半导体器件的形成方法,包括:提供基底,所述基底上形成有图形化的第一掩膜层;依次在所述第一掩膜层上形成第二掩膜层以及图形化的光刻胶层;以所述图形化的光刻胶层为掩膜,对所述第二掩膜层进行第一等离子体刻蚀,以得到图形化的第二掩膜层,所述图形化的第二掩膜层暴露出所述基底;以所述图形化的光刻胶层和所述图形化的第二掩膜层为掩膜,对所述基底进行第二等离子体刻蚀;其中,对所述基底进行第二等离子刻蚀的步骤中对所述基底的刻蚀量,小于所述图形化的光刻胶层与所述图形化的第二掩膜层的厚度之和。通过本公开方案可以在保证较好的通孔刻蚀效果的同时,改善刻蚀后基底的表面损伤程度,提升器件性能和良率。
天眼查资料显示,格科半导体(上海)有限公司,成立于2020年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本450000万人民币。通过天眼查大数据分析,格科半导体(上海)有限公司参与招投标项目21次,专利信息94条,此外企业还拥有行政许可86个。
来源:金融界