金融界7月8日消息,有投资者在互动平台向广电计量提问:高端算力芯片(如GPU、NPU)的工业缺陷智能化检测技术是否已突破?目前能解决哪些具体问题(如微小缺陷、多层结构隐藏缺陷)?
公司回答表示:您好,目前公司通过研发投入,在人工智能芯片检测方面实现较好的技术积累,可解决智能芯片的微小、多层缺陷的识别与暴露,通过InGaAs、OBIRCH和Thermal热点设备可以精确捕捉到芯片内部微小的电应力、工艺结构等缺陷造成的漏电或短路异常,CT可以用来检测2.5D、3D高阶封装内部的微小缺陷,同时可以通过DB-FIB/P-FIB/TEM进行芯片级别的高效率微区离子束刻蚀,辅助验证高阶芯片如4nm工艺质量等问题,为高端算力芯片(如GPU、NPU)的设计与制造提供验证及分析服务。
来源:金融界