安芯美科技取得半导体晶圆自适应检测专利
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2026-06-27 14:37:17
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国家知识产权局信息显示,江西安芯美科技有限公司取得一项名为“一种半导体晶圆检测装置及其检测方法”的专利,授权公告号CN116153799B,申请日期为2022年9月。

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来源:市场资讯

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