安信达申请芯片测试自动留档方法专利，减少测试时间_电子百科

安信达申请芯片测试自动留档方法专利，减少测试时间

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2026-06-20 01:29:33

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国家知识产权局信息显示，深圳市安信达存储技术有限公司;广东安芯达半导体有限公司申请一项名为“一种芯片测试的自动留档方法、设备及存储介质”的专利，公开号CN122245396A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本发明公开一种芯片测试的自动留档方法、设备及存储介质，包括：建立待测存储芯片与对应客户档案的绑定关系；对于待测存储芯片，执行其对应接口协议的测试；识别与待测存储芯片对应的目标磁盘，获取该目标磁盘的存储信息，根据存储信息对目标磁盘进行校验，校验通过后自动选定该目标磁盘，生成与绑定关系关联的界面图像数据；确定分区参数并执行分区配置，生成分区配置数据；格式化完成后对分区结果进行校验，若校验通过，则将测试数据、操作记录、界面图像数据以及分区配置数据，打包为与绑定关系关联的数据包；若校验不通过，则触发异常信息。在连续测试多个存储芯片时，减少测试时间，并确保留档数据的完整性和准确性。

天眼查资料显示，深圳市安信达存储技术有限公司，成立于2005年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市安信达存储技术有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目8次，财产线索方面有商标信息30条，专利信息99条，此外企业还拥有行政许可6个。

广东安芯达半导体有限公司，成立于2023年，位于珠海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，广东安芯达半导体有限公司专利信息3条，此外企业还拥有行政许可4个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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