金融界2025年5月20日消息,国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司;上海华虹宏力半导体制造有限公司申请一项名为“凹槽的刻蚀方法”的专利,公开号CN120015617A,申请日期为2025年02月。
专利摘要显示,本申请公开了一种凹槽的刻蚀方法,包括:提供一衬底,衬底上形成有第一硬掩模层,第一硬掩模层上形成有第二硬掩模层,第一硬掩模层和第二硬掩模层的构成材料不同;在第二硬掩模层上覆盖光阻,通过第一掩模板进行曝光,进行显影后去除第一目标区域的光阻;进行刻蚀,直至第一目标区域的第一硬掩模层暴露,在第二硬掩模层中形成第一凹槽,进而去除光阻;在第二硬掩模层上覆盖光阻,通过第二硬掩模层进行曝光,进行显影后去除第二目标区域的光阻,从俯视角度观察,第二目标区域与第一目标区域具有交叠的区域;进行刻蚀,直至交叠区域的衬底暴露,在第一硬掩模层中形成第二凹槽;进行刻蚀,在第二凹槽下方的衬底中形成第三凹槽。
天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2912次,专利信息1654条,此外企业还拥有行政许可117个。
上海华虹宏力半导体制造有限公司,成立于2013年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2046092.7759万人民币。通过天眼查大数据分析,上海华虹宏力半导体制造有限公司共对外投资了7家企业,参与招投标项目866次,财产线索方面有商标信息39条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可429个。
来源:金融界