西渥智控申请基于形状层次结构的PD芯片检测系统专利，实现对PD芯片外观缺陷稳定、精准且自适应的自动化检测_资源案例

西渥智控申请基于形状层次结构的PD芯片检测系统专利，实现对PD芯片外观缺陷稳定、精准且自适应的自动化检测

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2026-01-09 20:09:40

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国家知识产权局信息显示，深圳市西渥智控科技有限公司申请一项名为“基于形状层次结构的PD芯片检测系统”的专利，公开号CN121304653A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了基于形状层次结构的PD芯片检测系统，涉及芯片外观缺陷检测领域。该系统包括：图像采集模块：采集PD芯片图像，获得原始图像；晶粒定位模块：基于原始图像，利用模板匹配算法获得晶粒分割图像；特征提取模块：利用边缘检测算法提取几何特征获得直线特征集和圆形特征集；特征匹配模块：依据标准区域模板进行匹配，生成当前晶粒的边界信息集；区域结构置信度计算模块：基于边界信息集，计算结构置信度分数；缺陷检测模块：基于边界信息集、结构置信度分数和晶粒分割图像，执行缺陷检测，生成缺陷判定结果。通过融合形状层次分析与智能参数评估，创造性地实现了对PD芯片外观缺陷稳定、精准且自适应的自动化检测。

天眼查资料显示，深圳市西渥智控科技有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市西渥智控科技有限公司财产线索方面有商标信息10条，专利信息11条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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